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Marta Portela García

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Curriculum abreviado

Marta Portela García es Ingeniera Electrónica (2002) por la Universidad Complutense de Madrid y Doctora en Ingeniería Eléctrica, Electrónica y Automática (2007) por la Universidad Carlos III de Madrid, donde actualmente es profesora titular visitante dentro del departamento de Tecnología Electrónica. Su principal línea de investigación es la tolerancia a fallos en circuitos digitales frente a los efectos de la radiación y su evaluación. Otros intereses son el diseño de circuitos integrados digitales de altas prestaciones, sistemas empotrados, y diseño para FPGAs. Ha publicado 16 artículos en revistas de reconocido prestigio, más de 40 artículos en congresos internacionales y 2 capítulos de libro. Ha participado en 13 proyectos de financiación pública, tanto regional y nacional como de ámbito europeo.
Imparte docencia principalmente en el ámbito de los circuitos y sistemas digitales tanto en grado como en post-grado.
Ha realizado estancias internacionales en centros europeos con grupos de reconocido prestigio dentro del campo de la fiabilidad de circuitos como es el grupo de Electronic CAD & Reliability del Politecnico di Torino (Italia), y el SoC Design del IMEC (Bélgica).
 

Datos de contacto

Marta Portela 

  • Correo electrónico: marta.portela@uc3m.es
  • Teléfono: +34 916246021
  • Fax: +34 916249430
  • Dirección postal: Av. Universidad 30, 28911-Leganés, Madrid
  • Despacho: 1.2 C01

Publicaciones más recientes

  • "A method to assess the robustness of cryptographic circuits at the design stage", M. Arévalo-Garbayo, M. Portela-García, M. García-Valderas, C. López-Ongil, L. Entrena. Microelectronic Journal (Elsevier), 2014.  
  • "SEU Sensitivity Comparison for Different Reprogrammable Technologies With Minority Check Block", A. Vaskova, C. López-Ongil, M. Portela-García, M. García-Valderas, L. Entrena.  IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol. 60, No. 4, pp. 2813 - 2818, Aug. 2013.
  • "Evaluating the Effectiveness of a Software-Based Technique Under SEEs Using FPGA-Based Fault Injection Approach",M. Portela-Garcia, A. Lindoso, L. Entrena, M. Garcia-Valderas, C. Lopez-Ongil, N. Marroni, B. Pianta, L. Bolzani Poehls, F. Vargas. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (Springer), Vol. 28, Issue 6, pp. 777-789, Dec. 2012.
  • "On the use of Embedded Debug Features for Permanent and Transient Fault Resilience in Microprocessors", M. Portela-Garcia, M. Grosso, M. Gallardo-Campos, M. Sonza Reorda, L. Entrena, M. Garcia-Valderas, C. Lopez-Ongil. Microprocessors and Microsystems (Elsevier). Vol. 36, Issue 5, pp. 334-343, July 2012.
  • "Soft Error Sensitivity Evaluation of Microprocessors by Multilevel Emulation-based Fault Injection", L. Entrena, M. Garcia-Valderas, R. Fernadez Cardenal, A. Lindoso, M. Portela-Garcia, C. Lopez-Ongil. IEEE Transactions on Computers. Vol. 61, Issue 3, pp. 313-322, March 2012.

 

Asignaturas impartidas en el curso

  • "Circuitos Integrados y Microelectrónica". 3er curso. Grado en Ingeniería en Tecnologías de Telecomunicación.

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