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Carmen Inés Ballesteros Pérez

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Última actualización: 19/02/2019

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Curriculum abreviado

Licenciada en Ciencias Físicas por al Universidad Autónoma de Madrid en 1979 Doctor en Ciencias Físicas por la Universidad Complutense de Madrid en 1983 Profesora Titular de Ciencia de Materiales del Departamento de Física de Materiales de la Universidad Complutense de Madrid entre 1986 y 1994. Profesora Titular de Física Aplicada de la Universidad Carlos III de Madrid desde 1994. Actualmente dirige el Laboratorio de Microscopía Electrónica de Transmisión (LABMET

Líneas de Investigación:

  • Relación entre la estructura cristalina y las propiedades físicas de los sólidos.
  • Mecanismos de nucleación, crecimiento y estabilidad de nanoestructuras semiconductoras.
  • Microscopía Electrónica de Transmisión

Datos de contacto

Correo electrónico: 
balleste@fis.uc3m.es

Teléfono: 91.624.94.40

Fax: 91.624.8749

Dirección Postal: Escuela Politécnica Superior Departamento de Física 20911 Leganés-Madrid

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Asignaturas impartidas en el curso

Primer cuatrimestre:

  • Física I

Segundo Cuatrimestre: 

  • Física de Materiales II
  • Caracterización de Materiales y Defectos

Master en Ciencia e Ingeniería de Materiales

  • Microscopía Electrónica de Barrido y microanálisis de rayos x
  • Microscopía Electrónica de Transmisión
  • Caracterización cristalográfica, microestructural y de superficie de materiales

Más información

Directora del LAMBET

(LABMET-Laboratorio de microscopia electrónica de transmisión RED de Laboratorios de la Comunidad de Madrid )

Fines:

El LABMET desarrolla y aplica las técnicas de microscopia electrónica de transmisión en materiales de interés tecnológico.

Instrumentación Principal:

Microscopio electrónico de transmisión de 200 kV tecnai 20-F equipado con análisis de rayos x y módulo de barrido en transmisión (STEM) con detector anular de alto ángulo (HAAD).
Adelgazador iónico Fishione 10
Plasma Cleaner
Equipos convencionales de adelgazamiento y pulido.

Servicios Externos:

Caracterización de muestras mediante microscopia electrónica de transmisión analítica y de alta resolución. Imágenes STEM con contraste en número atómico y mapas de composición.
Preparación de muestras sólidas mediante adelgazamiento por bombardeo iónico en sección plana y transversal.